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    TF lab 系列台式单点测试设备

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  • TF lab 系列台式单点测试设备
  • TF lab 系列,允许导电性薄膜和在非接触模式薄的金属层的层厚度测量的手动单点测量。紧凑的台式设备非常适合快速准确地测量最大的样品。除了测量薄导电层之外,还可以分析掺杂的晶片和导电聚合物。
  • 优势
  • 非接触式实时测量

    精确测量导电薄膜

    隐藏和封装导电层的表征

    测量数据保存和导出功能

  • 测量
  • 薄层电阻

    金属层厚度测量

    单点测量

    质量控制,输入和输出控制

    测量范围:0.1 mOhm/sq 100 kOhm/sq

  • 应用
  • 涂层建筑玻璃,例如 LowE

    显示器、触摸屏和平板显示器

    OLED LED 应用

    智能玻璃

    石墨烯层

    光伏晶片和电池

    半导体晶片

    金属化层和晶圆金属化

    除冰和加热应用

    电池电极

    导电涂层纸和导电纺织品

  • 类型
  • 薄层电阻测试仪 Ohm/sq、OPS、Ohm per square

    金属层厚度测试仪 (nm, µm, mil)

    各向异性和薄层电阻测试仪 (MD/TD)

    湿涂层厚度和残留水分 – HF

    电阻率和电导率测试仪 – (mOhm cm, MS/m)

  • 测量界面
  • TF lab 2020 系列 非接触式单点薄层测试仪
  • 20211210,星期五
  • 15:02
  • TF lab 2020 系列,允许导电性薄膜和在非接触模式薄的金属层的层厚度测量的手动单点测量。紧凑的台式设备非常适合快速准确地测量最大的样品。除了测量薄导电层之外,还可以分析掺杂的晶片和导电聚合物。
  • 优势
  • 非接触式实时测量

    精确测量导电薄膜

    隐藏和封装导电层的表征

    测量数据保存和导出功能

  • 测量
  • 薄层电阻

    金属层厚度测量

    单点测量

    质量控制,输入和输出控制

    样品尺寸:10 x 10 mm² 200 x 200 mm²0.5 x 0.5 英寸到 8 x 8 英寸)

    测量范围:0.1 mOhm/sq 100 kOhm/sq

  • 应用
  • 涂层建筑玻璃,例如 LowE

    显示器、触摸屏和平板显示器

    OLED LED 应用

    智能玻璃

    石墨烯层

    光伏晶片和电池

    半导体晶片

    金属化层和晶圆金属化

    除冰和加热应用

    电池电极

    导电涂层纸和导电纺织品

  • 软件和设备控制
  • 非常人性化的软件

    直观的触摸显示导航

    实时测量薄层电阻和层厚

    软件辅助手动映射选项

    各种数据保存和导出选项

  • 电阻测试仪参数
  • 基材
  • 箔、玻璃、晶片等
  • 基板面积
  • 8 英寸/204 毫米 x 204 毫米
  • 最大限度。样品厚度/传感器间隙
  • 3 / 5 / 10 / 25 毫米(由最厚的样品定义)
  • 金属薄膜(例如铜)的厚度测量范围
  • 2 nm – 2 mm(根据薄层电阻)
  • 设备尺寸 (w/h/d)
  • 11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 毫米 x 140 毫米 x 445 毫米
  • 重量
  • 10公斤
  • 更多可用功能
  • 薄层电阻测量/金属厚度检测
  • VLSR
  • LSR
  • MSR
  • HSR
  • VHSR
  • 范围 [欧姆/平方]
  • 0.0001 – 0.1
  • 0.1 – 10
  • 0.1 – 100
  • 10 – 2000
  • 1,000 – 200,000
  • 精度/偏差
  • ± 1%
  • ± 1 – 3%
  • ± 3 – 5%
  • 重复性 (2σ)
  • < 0.3%
  • < 0.5%
  • < 0.3%
  • * VLSR - 极低薄层电阻,LSR - 低薄层电阻,MSR - 中等薄层电阻,HSR - 高薄层电阻,VHSR - 极高薄层电阻
  • 升级测试
  • 薄层电阻测试仪 Ohm/sq、OPS、Ohm per square

    金属层厚度测试仪 (nm, µm, mil)

    各向异性和薄层电阻测试仪 (MD/TD)

    湿涂层厚度和残留水分 – HF

    电阻率和电导率测试仪 – (mOhm cm, MS/m)


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